与此同时，采取多种原理，应用范围广泛，有较高科技含量，日趋智能化的各类测厚仪相继问世，有力地推动了工程物理检测的发展。与国外技术和同类产品相比，面对入世和国际经贸一体化的挑战，我们当奋起直追，增强参与国际竞争的适应力和创新意识，抢抓机遇，努力实现测厚技术的跨越式发展。 涂镀层测厚技术发展现状 测量方法原理多样化 涂镀层厚度测量，方法多样，测试原理各不相同。在标准，将涂盖层厚度测量方法分为无损法和破坏法两类。
EXF镀层测厚仪的相关工作原理之磁性原理测厚仪可应用来丈量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
EXF镀层测厚仪产品采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可丈量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。
固然钢铁基体亦为导电体，但这类任务仍是采用磁性原理丈量较为合适。
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间间隔的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。因为这类测头丈量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，答应误差1%，量程10mm的高水平。
镀层测厚仪主要用于金属材料表面涂镀层厚度的测量，一般常采用无损检测方法。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差，为确保测量结果的准确可靠，有必要对其进行不确定度分析。
本产品能同时测量磁性基材表面（如钢和铁）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电镀涂层（如油漆等）。本仪表内置高精密一体化探头，同时运用电磁感应和涡流效应两种原理，自动检测基材属性并探测涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
EXF镀层测厚仪是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
EXF镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
塑料工业电镀、电子材料、电镀（连接器、半导体、电路板、电容器等），钢铁材料涂层（铁、铸铁、不锈钢、合金、低表面处理钢板，等等）和有色金属材料涂层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）和各种其他涂层厚度测量和成分分析。EXF镀层测厚仪是一种非接触式无损检测方法，但该装置复杂、成本高、测量范围小。由于有放射源，用户必须遵守辐射防护规定。X射线法可测量极薄镀层、双镀层、合金镀层。射线法适用于涂层和基体原子序数大于3的涂层测量。电容法仅用于测量薄导电体上绝缘涂层的厚度。
EXF镀层测厚仪测量磁性金属基体条件（如钢、铁、合金和硬磁性钢、等）的磁性涂层厚度（如铝、铬、铜、搪瓷、等）、橡胶、油漆和非磁性金属基质（如铜、铝、锌、锡等）在导电涂层厚度（如：搪瓷、塑料、橡胶、油漆、等）。涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作方便等特点。EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差，为了保证测量结果的准确性和可靠性，有必要进行不确定性分析。
EXF镀层测厚仪中原子的性质是由原子序数决定的，即轨道中质子数或电子数，具体x射线能量与原子序数的关系如图所示。K辐射的能量远高于L辐射的能量。涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测，测量手段繁琐、速度慢，更适合抽样检查。
EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可测量各种金属涂层的厚度，包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。当样品受到X射线照射时，样品中所含涂层或基体材料元素的原子受到激发后会发射出自己特有的X射线。不同的元素有不同的X射线特性。当探测器探测到这些特征x射线时，它会把它们的光信号转换成模拟电信号。模拟电信号经模数转换器转换为数字信号，送入计算机进行处理。根据计算机专用应用软件获得的谱峰信息，通过数据处理确定镀层样品中各元素的类型和各元素的厚度。
EXF镀层测厚仪的相关工作原理之近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使丈量和重现性有了大幅度的进步（几乎达一个数目级）。
EXF镀层测厚仪的技术性，镀层测厚仪的技术简要介绍了涂镀层测厚技术的发展现状及时代特征，重点介绍了目前国内外磁性涂镀层测厚仪典型产品 的功能特点，初步探讨了涂镀层测厚技术的未来发展趋势。 磁性涂镀层测厚仪 厚度测量是涂镀层物性检测的重要项目之一，工程材料开发，微电子技术应用和标准化事业进展，涂镀层测厚技术近几年来在国内外得到迅速发展。
磁感应丈量原理采用磁感应原理时，利用从测头经由非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。EXF镀层测厚仪利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。假如覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，EXF镀层测厚仪自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，丈量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。